抄板及IC解密案例：气冷式冷热冲击试验箱

本案例中的气冷式冷热冲击试验箱 抄板案例是我们成功进行IC解密及样机仿制经典案例之一

气冷式冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.

 

 

智联科技提供上述产品的IC解密及样机的克隆。我们在反向解析、PCB抄板、PCB克隆、IC解密、样机仿制克隆、样机制作、样机调试等反向研发领域取得的重要技术成果。有业务需求者请致电至智联科技咨询详情。

 

 

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